Studier och tillämpning av elektroniska material har skapat en ökande efterfrågan på sofistikerade och tillförlitliga tekniker för att undersöka och karakterisera dessa material. Denna omfattande bok tittar på området röntgendiffraktion och de moderna tekniker som finns tillgängliga för användning inom forskning, utveckling och produktion. Den ger den teoretiska och praktiska bakgrunden för att tillämpa dessa tekniker i vetenskaplig och industriell materialkarakterisering. Huvudsyftet med boken är att kartlägga den teoretiska och praktiska bakgrunden som är nödvändig för att studera enkristallmaterial med hjälp av högupplöst röntgendiffraktion och topografi. Den kombinerar matematiska formalismer med grafiska förklaringar och praktiska råd för att tolka data. Språk: Engelska